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双面倒角（内孔边缘外凸V型结构）消除杂光的优势
发布时间：
2023-02-14 10:57
高端的摄像头内部一般需要放置遮光圈用来遮挡其他杂散光，采用表面带防静电高遮光涂层的聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）原材料直接冲切后，内孔的断面会留下发亮的切断面，产生明显的眩光、光晕及鬼影等不良。山形光学为了彻底解决这个问题，配合摄像头厂家于14年成功研发出了内孔边缘内凹V型及U型结构的断面内缩遮光圈，有效解决了镜头杂散光问题。
2021年山形光学又推出了替代单面倒角的新一代创新性工艺：双面倒尖角工艺。
随着大光圈时代摄像头的像素要求越来越高，山形光学大幅度提升了薄膜冲切的精密度和稳定性，可以配合摄像头厂家灵活选用从腐蚀消光、单面倒角、双面倒角等多种工艺解决摄像头通光及杂散光问题。
鉴于以上两类消光工艺，我司2022年开发了双面倒角工艺，此工艺具备单面倒角效果且同时具备腐蚀消光的组装无需识别的高效优势，目前已在一些高端机型性能已验证并量产。以下是采用普通消光工艺的麦拉片与双面倒角工艺的麦拉片进行了全面杂散光仿真对比。
激光照射测试
将麦拉片横置裸露于测试环境中，在其下方一定距离处直接放置图像传感器，通过强光源对麦拉片内孔各角度进行照射，观察采集到图像的变化，取散射光最强时作为该情形下的消杂极限性能，由于激光强度极高，能够最大程度放大麦拉片引入的杂散光强度，进而能更好的比较这两种工艺消杂的效果。
灯光测试
将麦拉片装配好完整的测试镜头，并在外部不同角度处施加一定照度的点光源或平行光照射。观察采集到图像的变化，取散射光最强时作为该情形下的消杂极限性能。该方法相对激光照射测试，能更准确的得到使用环境下的杂散光情况。
激光测试条件下，双面倒角麦拉片的消杂效果相对普通消杂麦拉片较好，其表面不会引入过多的杂散光，而普通消杂麦拉片会引入非常严重的弧形线状杂散光。然而在灯光测试条件下，双面倒角麦拉片引入的杂散光几乎不可见，普通消杂麦拉片表面会引入较强的杂散光，严重影响镜头光学性能。 所以，双面倒角麦拉片拥有更好的消除杂光性能，双面倒角工艺缩小了镜头产品中关键表面的面积，对减少杂光影响具有显著作用，进而保证了拍摄效果，提升了摄像产品的品质。
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